下极板采样是一种在SAR（Successive Approximation Register）ADC（Analog-to-Digital Converter）中常用的技术，其目的是为了减少电荷注入效应的影响。在SAR ADC中，上极板采样和下极板采样是两种不同的采样技术，它们各自有不同的作用：
上极板采样：主要用来减少寄生电容的影响，并解决电荷注入问题。
下极板采样：通过时序控制来抵消掉电荷注入的有效手段。
具体来说，下极板采样技术利用开关电容电路和运算放大器设计采样保持电路（S/H电路），通过特定的时钟信号控制，在采样结束后进行电容翻转，从而避免输入信号的共模电平与预想值有较大偏差时对ADC性能造成影响。在一些涉及高低电源电压的应用中，较大的共模电压变化可能会导致器件损坏，因此，采用下极板采样技术的ADC通常会设计输入共模电平保护电路来确保系统的稳定性和可靠性。